Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης Tungsten Filament, Eco. SEM, 15x ~ 250000x

Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Eco. SEM, 15x~250000x Featured Image

Α63.7062

Σύντομη περιγραφή:

15x ~ 25000x Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης νήματος βολφραμίου, Std. SEM

Αναβαθμίσιμος ανιχνευτής ακτίνων X LaB6, EBSD, CL, WDS, μηχανή επίστρωσης κ.λπ.

Multi Modification EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM + Laser And κ.λπ.

Αυτόματη βαθμονόμηση, αυτόματη ανίχνευση ελαττωμάτων, χαμηλό κόστος συντήρησης και επισκευής

Εύκολη και φιλική διεπαφή λειτουργίας, όλα ελέγχονται με ποντίκι στο σύστημα των Windows

Ελάχιστη ποσότητα παραγγελίας:1

Στείλτε μας email

Λεπτομέρεια προϊόντος

Ετικέτες προϊόντος

περιγραφή προϊόντος

A63.7062 Tungsten Filament Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης, Οικο. SEM
Ανάλυση	4.5nm@30KV (SE); 6nm @ 30KV (ΣΕΒ)
Μεγέθυνση	Αρνητική μεγέθυνση: 15x ~ 250000x; Μεγέθυνση οθόνης: 30x ~ 500000x
Όπλο ηλεκτρονίων	Tungsten Θερμαινόμενη κασέτα βολφραμίου με επικεντρωμένο κέντρο βολφραμίου
Επιτάχυνση τάσης	0 ~ 30KV
Σύστημα φακού	Ηλεκτρομαγνητικός φακός τριών επιπέδων (κωνικός φακός)
Αντικειμενικό διάφραγμα	Molybdenum Aperture Ρυθμιζόμενο εξωτερικό σύστημα κενού
Στάδιο δείγματος	Πέντε άξονες
Ταξιδιωτική σειρά	X (Αυτόματο)	0 ~ 50 χιλιοστά
Y (Αυτόματο)	0 ~ 50 χιλιοστά
Z (Εγχειρίδιο)	0 ~ 25 χιλιοστά
R (Εγχειρίδιο)	360ο
T (Εγχειρίδιο)	-5ο ~ 90ο
Μέγιστη διάμετρος δείγματος	150 χιλιοστά
Ανιχνευτής	SE: Ανιχνευτής δευτερογενούς ηλεκτρονίου υψηλής κενού (με προστασία ανιχνευτή)
Τροποποίηση	Stage Upgrade; EBL; STM; AFM; Heating Stage; Cryo Stage; Tensile Stage; Micro-nano Manipulator; SEM + Coating Machine; SEM + Laser
αξεσουάρ	CCD, LaB6, X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, μηχανή επίστρωσης
Σύστημα κενού	Turbo Molecular Pumps; Rotation Pump. Αντλία περιστροφής
Ρεύμα δέσμης ηλεκτρονίων	10pA ~ 0,1